你知道要如何量測太陽光模擬器的光譜致合度嗎？在量測光譜致合度前，我們需要確認(rèn)模擬器可適用于光譜匹配測量任務(wù)，并且確保模擬器的靈敏度適合于所要量測的波長范圍。

　　

　　若使用脈沖式模擬器，需要注意許多事項，包含：

　　

　　1、光譜儀的積分時間應(yīng)適合模擬器的脈沖長度。

　　

　　2、模擬器的光譜可能會在光脈沖期間發(fā)生變化。

　　

　　3、在光譜偏移的情況下，輻照度監(jiān)視器和待測樣品之間光譜響應(yīng)度的差異將會引入光譜失配誤差。

　　

　　4、積分時間應(yīng)小于脈沖長度的一半。

　　

　　另外，根據(jù)IEC60904-9的說明，可能決定光譜輻照度測量質(zhì)量的特性參數(shù)包含：波長分辨率、光譜輻射計、雜散光或二階波長效應(yīng)、輸入光學(xué)器件的角度響應(yīng)。

　　

　　除了特性參數(shù)，量測太陽光模擬器的光譜致合度也有許多可用的測量技術(shù)。根據(jù)IEC60904-9的說明，以下特性參數(shù)可能決定光譜輻照度測量的質(zhì)量：

　　

　　波長分辨率：光譜儀的波長分辨率在可見光范圍（300nm至900nm）內(nèi)應(yīng)等于或優(yōu)于5nm，在近紅外范圍內(nèi)（900nm至1200nm）應(yīng)等于或優(yōu)于10nm。(注意：波長分辨率是分光輻射計分離兩條靠近的光譜線的能力的量度)

　　

　　光譜輻射計通常在低輻照度水平下使用鎢校準(zhǔn)燈進(jìn)行校準(zhǔn)。然而，太陽模擬器的光譜強度可能與校準(zhǔn)條件有很大不同。

　　

　　欲量測太陽光模擬器的光譜致合度有許多可用的測量技術(shù)。然而，CCD光譜輻射計技術(shù)由于其緊湊的尺寸和出色的光譜性能而成為常見的技術(shù)。

　　

　　使用CCD光譜儀進(jìn)行光譜輻照度測量通常需要使用兩臺儀器來涵蓋完整的波長范圍（例如：分別使用Si和InGaAs檢測器）。SiCCD通常覆蓋300-1100nm，InGaAsCCD可以覆蓋900-1700nm。

　　

　　結(jié)合這兩種儀器和適當(dāng)?shù)挠嘞倚Ｕ鈱W(xué)器件，可以適當(dāng)?shù)販y量太陽光模擬器的光譜分布。